产品描述

4G-LTE手机测试白卡，适用于CMW500综测仪上对LTE-FDD/TDD手机的耦合测试。有大、小两种芯片可选。
      
一．产品使用简述：

4G-LTE手机测试白卡、FDD/TDD手机测试白卡、GSM/CDMA手机测试白卡、WCDMA/TD-SCDMA/CDMA2000手机测试白卡.

手机测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试LTE（Long Term
Evolution，长期演进)是由3GPP组织制定的UMTS技术标准的长期演进，于2004年12月3GPP多伦多TSG RAN#26会议上正式立项并启动。LTE系统引入了OFDM和多天线MIMO等关键传输技术，显著增加了频谱效率和数据传输速率（峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多种带宽分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，频谱分配更加灵活，系统容量和覆盖显著提升。LTE无线网络架构更加扁平化，减小了系统时延，降低了建网成本和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。

FDD-LTE已成为当前世界上采用的国家及地区最广泛的，终端种类最丰富的一种4G标准。常用于LTE手机、4G手机、FDD手机、GSM手机、UIM手机、RUIM手机、CDMA2000手机、USIM手机，配合综合测试仪(CMW500、8960、CMU200)以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试（接收、发射功率和误码率），却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试白卡可以实现信号至仪器到手机的 路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。测试白卡可进行耦合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。

二．产品适用的测试仪器的品牌：
适用安捷伦、安立、罗德施瓦茨（8960、CMU200、CMW500、MT8820C）等各种无线通信综合测试仪以及各手机厂或者营运商自建的网络等。

三：产品品质保证：
  我们公司的手机测试白卡采用国际 半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合目前所有的2G/3G/4G网络制式手机.

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